14/1/29『nano tech 2014』報告(出展、セミナー)


『nano tech 2014』”ブース出展”と”ナノテクを支える計測技術セミナー”
-コンソ設立の経緯から現在の活動内容についてご紹介-

2014年1月29日~31日、東京ビッグサイトで開催された「nano tech 2014第13回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」(東4~6ホール・会議棟、主催:nanotech実行委員会)においてCOMS-NANOとしてブース出展とセミナー開催を実施しました。
本展示会はナノテクノロジーに関する世界最大級の展示会であり、今回は、21か国から640団体が出展し、3日間で延べ45,841名の来場者がありました。以下今回のブース出展とセミナー開催の詳細についてご報告いたします。
なお、今回の出展とセミナー開催は、ナノ材料を取り巻く国際的な規制や標準化の現状、またそれに対応すべく設立された本コンソーシアムの活動について様々な機会を通じて関係企業等に広く周知することを目的に行われたものです。

ブース展示(1月29日~31日)について

2小間(6mx3m)のスペースにポスター8枚(コンソーシアムの概要説明3枚、各社が担当する個別技術説明各1枚)を掲示し、コンソ設立の経緯から現在の活動内容についてご紹介しました。また、各社との連携を図るために、パネルの下端に各社のブース番号を記入するとともに、逆に各社のブースにおいてはコンソの案内パネル(共通内容)を掲示していただきました。

nanotech2014Booth

ブース展示風景

反響等について

ブースへは、会期中を通して1時間当たり10~20名のご来場者がありました。ご来場者からはコンソーシアム全体の活動よりも個別技術に対する質問が多くあり、計測技術に対する興味が高いと感じられました。以下、ご来場の方々からは、今後コンソの展開に有用と考えられる御意見や御質問をいただくことができました。

  • TEMだけで一般の粉体材料の完全な評価は困難なので、コンソで提案する分級を組み合わせた手法が完成すれば有難い。
  • ヨーロッパでは遠心沈降法が主流になりそうと聞いているが、コンソではそのような手法の開発はしないのか。
  • 分級前後において、粒径分布が変化してしまうことはないのか。
  • ナノ粒子の製造過程を制御するために、粒子の成長過程を見ることはできないのか。
  • AFMを用いてナノ粒子の液中観察ができないか。また、その際にナノ粒子の固定方法はあるのか。
  • ナノ材料の規制に対して、企業が今後対応すべき内容などの情報を発信してほしい。
  • トナーについて規制対応を進めているところである。ナノ材料の計測は重要と考えている。
  • 公設試としてコンソの活動に賛同できる。計測装置は売り出されるのか。

『ナノテクを支える計測技術セミナー』(1月30日)について

コンソーシアムの概要説明を目的とした『ナノテクを支える計測技術セミナー』がメインシアターにおいて行われ、産総研 三木理事の開会の辞に続き、日本電子㈱ 杉沢氏よりコンソの概要紹介(10分)があり、引き続き㈱島津製作所、㈱堀場製作所、㈱リガク、日本電子㈱、㈱日立ハイテクノロジースより、各社が分担する計測技術についてのご紹介(各18分)が行われました。

Seminars

運営委員長 三木氏による開会の辞(右)と司会者(左)

プログラム決定が遅れたこともあり、事前アナウンスが殆どできていない状況(nanotech展HPへの掲示は約3週間前)でしたが、会場の客席はほぼ満席(~120席)で、立ち見客が出るほどの盛況でした。これもナノ材料に対する測定技術への関心の高さの表れと考えられます。また、個々の技術紹介ごとに出入りされる参加者の方々も多く、個別の測定技術についても強い関心を寄せられているようです。
2時間弱の公演時間内に多くの内容を盛り込んだため質疑応答の時間が取れなかった、最終プログラムのアナウンスが遅れたなど反省点はありましたが、関係者ご一同のご協力により成功裏に無事終了することができました。セミナーに参加された方々、ブースにご来訪いただいた方々に、心より感謝の意を表します。
引き続きご支援のほど、よろしくお願い申し上げます。

SeminarsNi&Shi

日本電子㈱[左]と㈱島津製作所[右]よる講演

プログラムの内容

タイトル/講演者
開会の辞
三木幸信
 独立行政法人 産業技術総合研究所
コンソ-シアムの概要紹介
杉沢寿志
 日本電子株式会社
ナノ粒子における粒径分布の測定
奥田浩史
 株式会社島津製作所
光計測によるナノ粒子のキャラクタリゼーション
保田芳輝
 株式会社堀場製作所
ナノ粒子をX線で評価する
矢尾板憲一
 株式会社リガク
電子顕微鏡像からどこまでナノ粒子径分布計測が可能となるか
中野田伸治
 日本電子㈱
走査型プローブ顕微鏡(AFM)によるナノ粒子計測
白川部喜春
 株式会社日立ハイテクテクノロジース