ナノ計測の概要

測定装置と測定範囲

ナノ粒子を含む粉体材料の計測には、液体中や真空中など粒子の置かれた環境、測定可能な粒径の範囲、測定値の精度など測定条件の違いにより様々な方法が考えられます。このため測定には、材料の特性、使用目的や利用環境に応じた測定手法を考慮し、適切な計測装置を選択することが重要となります。
特にナノ材料規制に対応した測定おいては、

  1. 粒径の値がnm程度の極微小粒子数を正確にカウントできる。
  2. 100 nm程度の微粒子粒径を正確に計測できる。
  3. 粒径100 nm以上の大きな粒子が存在しても極微小粒子を正確にカウントできる。

などの点が重要視され、こうした条件をクリアーできる計測手法と装置の早急な定常化が求められています。

Measurement range of the measuring device

粒子径分布測定装置とその範囲

また、粒径が数ナノから数ミクロンにおよぶ広い範囲を測定できる手法及び装置はいくつか存在しますが、単一の計測装置のみで粒径分布の広い試料(極微小粒子と大きな粒子が混在したもの)を正確に評価することには困難が伴います。そこで本コンソーシアムでは分級装置により試料の粒径分布を幾つかに区分したのちに、広範囲の粒径測定が可能な複数の装置(TEM/SEM、SAXS、DLS、AFM、ICP-MS)を用いて正確に粒径分布を計測する手法-ナノ粒子複合計測システム-の構築に取組んでいます。複数の計測方法を組み合わせることにより、様々な種類の材料や利用現場への迅速な対応を目指します。