原子間力顕微鏡 AFM

原子間力顕微鏡法(AFM)の原理
AFM(走査型プローブ顕微鏡)は微小な探針で表面をなぞることで、形状や物性解析を行います。ナノ粒子計測ではナノ粒子の基板固定からAFM測定、データ解析までを行います。

1.ナノ粒子計測プロトコル
AFM_Protocol01

2.AFM測定構成図

AFM_System configuration diagram01

3.測定システム例

AFM5200S image

走査型プローブ顕微鏡 AFM5200S(日立ハイテクサイエンス社製)

AFMの特徴と測定事例
1.AFMの特徴
AFM(走査型プローブ顕微鏡)はその原理から下記のような特徴を持っています。

  1. 大気中で測定できる。
  2.  シングルnmの粒子まで高分解能で測定できる。
  3. 粒子表面の微細構造が観測できる。
  4. 連なった粒子も粒子径を求められる。
  5. 大きさの異なる(多峰)粒子も測定できる
  6. 個数基準測定であり、1個1個の粒子の3次元形状が測定できる。
  7. 材質の異なる粒子の分離計測ができる。

2.測定事例
測定事例としてPSL(ポリスチレン)70 nmと100 nm粒子の1:1混合サンプルの測定結果を紹介します。

AFM_Features-and-measurement-case03